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【电子行业标准(SJ)】 陶瓷电绝缘材料规范 L级
本网站 发布时间:
2024-07-05 05:04:29
- SJ20386-1993
- 现行
标准号:
SJ 20386-1993
标准名称:
陶瓷电绝缘材料规范 L级
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
1993-05-11 -
实施日期:
1993-07-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
标准内容
部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准FL5970
陶瓷电绝缘材料规范
Insulating compoundeletrical,ceramic,class L
1993-05-11发布
SJ20386-93
1993-07-01实施
中华人民共和国电子工业部:批准1范围
中华人民共和国申子行业军用标准陶瓷电绝缘材料规范
Insuiating comopound-clectrical,ceramic,elass L.
1.1主题内穿
本规范规定了陶资电绝缘材料L级的分类、要求、质量保证规定等,1.2适用范围
SJ203B6---93
本规范适用于电子通讯及同类电气设备用的低介电常数(12或12以下)陶瓷电绝缘材料L级及其分类。
1.3分类
本规范仅包括那些具有1.3.1至1.3.5条特殊规定的陶瓷绝缘材料包括:
介质损耗指数
(1. 3. 1)
(1.3.2.1)
1.3.1绝缘材料的标志
绝缘强度
(1.3.2.2)www.bzxz.net
绝缘材料用单一字母符号“L\表示。1.3.2分类标志
抗弯强度
(1.3,2.3)
X被段
越导率
(1. 3. 4)
表面处理
(1. 3. 5)
绝缘材料应在上述标志后面用三个号码(分类标志》进一步识别。第一个号码代表在1MHz题率下介质损耗指数;第二个号码代表绝缘强度,第三个号码代表抗弯强度(抗折强度)。按上述规定所述,在1MHz频率下介质损耗指数为0.016.绝缘强度为15至17.9,抗弯强度为100至139.9的绝缘材料可表示为L422。1.3.2.1.1MHz频率下的介质损耗指数介质损耗指数的标态是用在1MHz时所测得的试样的最大介质损耗指数值来确定,如下所东:
中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实施
YrKAOKAca
分类标志
1.3.2.2绝缘强度
SJ 20386-93
最大介质损耗指数
绝缘强度的标志是用被测试样品的平均绝缘强度确定,如下所示:分类标志
1.3.2.3抗弯强度(抗折强度)
平均绝缘强度(x10V/m)
抗弯强度(抗折强度)的标志是用被测试样品的平均抗弯弱度(抗折强度)来确定,如下所亲:
分类标志
1. 3. 3X—被段标志
平均抗弯强度(XMPa)
80 ~99. 9
100~139.9
180~199.9
200~249. 9
250~299.9
≥300
当绝缘材料要求使用题率从100MHz到24GHz时,它们将用\X\来表示这一额率范围,后面是一位数、斜线和二位数。其中位数代表8.2GHz到12,4GHz内的基些X一波段测得的介质损耗指数,用1.3.2.1条的分类标表来表示,二位数代表在一些X一波段频率时测得的介也常数(见 1. 3. 3. 1 条)。1.3.3.1X-被段时的介常数
介电常数的标志是用在8.2GHz到12.4GHz基些×-波没频事内测得的样品的介电常数来确定,如下所示:
分类标志
1.3.4热导率标志
SJ20386—93
介电常数
11.6~12
10.6~11. 5
9. 6~10. 5
8. 6~~9. 5
6. 6~6. 5
3,6~4. 5
2, 6~3. 5
当需要高热导率绝缘材料时,它们将用标志符号“T\来表示,即 L122T.或L422X6/04T..
1. 3. 5 表面特征
当绝缘材料需要进一步表示表面处理情况时,用单个字母符号“G”“M\或\C\来表示, L422G 或 L.422X6/04TG,或
引用文件
GB 2421—82
GB 559385
表面处理
表面上釉
表面需要研磨加工
自然表面(即烧结后不经过加工处理的表面)电工、电子产品基本环境试验规程、总则、电子元器件结构陶瓷材料
GB 5594. 1 -8--85
GB 5597—85
GB 5598—85
GB 7265. 1--87
GB 9530-88
3定义
电子光器件结构陶瓷材料性能测试方法固体电介质微渡复介电常数的测试方法氧化缺瓷导热系数测定方法
用微烧法测定固体电介质复介电常数电子陶瓷名询术语
3.1本规范所采用的名词术语定义符合GB9530的规定,3.2介质损耗指数
表征在电场中材料本身损耗的特征,其数值为介电常数与介质损耗角正切值的乘积。4要求
TTKAONKACa-
4.1鉴定
S3 20386-93
按照本规范提供的丝缘材料应是经过试验并且通过按5.4条规定的鉴定试验的产品。4.2材料
包括天然或经人工合成的无机材料(见6.2条)或者通过压制挤制或另外方法熔化或加热烧结而形成的复合物材料。
4.2.1釉料
根据本规范涉及的多晶材料应当是上精和不上轴当中的任何种,当规定基质材料上釉时,则上轴基材不应出现针孔裂纹或任何碎裂脱皮),基材不应用有机密封胶或涂复材料如硅树脂等没溃或另外处理,非晶材料,如玻璃或其他材料具有象玻璃一样的表面应当把它着作是轴化。
4.2.1.1颜色
途于基质材料上的精的颜应符合规定。4.31MHz频率时的介电常数和介质损耗指数当绝缘材料按5.6.1.1条中的规定进行试验时,介电常数应不大于12.介质损耗指数值应不大于在1.3.2.1条分级规定中所列出的数值。4.3.1X一波段(当规定时)时的介电常数和介质损耗指数当规定需要X一波段的介电常数和介质摄耗指数值时材料按5.6.1.2条规定进行试验,其介电常数和摄耗指数应与 1. 3. 3 条和 1. 3. 3. 1 条中的分级规定相一致。4.4绝缘强度
当绝缘材料按5.6.2条中规定进行试验时,平均绝缘强度不应小于1..2.2条分级规定中的最小值
4.5抗弯强度(抗折强度)
当绝缘材料按5.6.3策中的规定试验的平均抗强度(抗折强度)不应小于1.3.2.3条规定中列出的最小值。
4.6孔隙
当绝缘材料按5.6.4条的规定进行试验时,应无任何渗透染色痕迹。4.7热导率(当规定需要时)(见6.2条)当绝缘材料按5.6.5条中规定进行试验时.在40℃时的平均热导率不应小于231.7W?m-1k=1在125℃时不应小于172.9W*m-1k~1。任一样品测得的最低的热导率的值不应偏离平均值的20%。5质量保证规定
5. 1检验责任
除合同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,订购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任一检验项目进行检查。5,1.1 合格责任
所有产品必须符合本规范第四章和第六章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纳的一个组成部分,若合同中包括本规范规定的捡验要求,承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求,质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求订购方接收有缺陷的产品。4
5.2捡验分类
绝缘材料检查与试验分类如下:\。鉴定检验;
b.质量一致性检验。
5.3检验条件
SI 20386—93
除非另有规定,所有检验,应按GB2421所规定的正常的试验承件下进行。5.4鉴定检验
5.4.1检查和试验表格
抽样方法、试样尺寸、数量应符合GB5593表2的规定,鉴定检验应按表1中所规定的条件进行。
表1鉴定检验
检查或试验
上釉(当适用时)
1MHz时介电常数和介质损粘指数X一波段(当规定时)介电常数和介质摄耗指数绝缘强度
抗弯强度
热导率(当有规定时)
要求的章条号
若所有检验项目均符合本规范的规定,则认为鉴定检验合格,5.4.2鉴定合格资格的保持
检查或试验方法的意条号
5. 6. 1. 2
为「保持鉴定合格的资格,承制方每二年应全部重新进行鉴定试验。5.5质量一致性检验
质量一致性检验应包括逐批检验和周期检验。5.5.1批
包括仁何用基本相同的材料,在基本相同的条件下生产的间时在任何三个月内提交检验的本体材料为一批。
5.5.2逐批检验
逐批检验应在特定产品牌号材群的每批进行,逐批交收检验是批验收或拒收的基础.逐批交收检验应包括介电常数、介质损耗指数值的确定及与表示确定的被试产品相应级的规定值的比较(见1.3.2条和4.3.1条。)5.5.2:1抽样方案
用GB5593中规定的形状和尺寸的4只样品,按5.5.2条中规定进行逐批捡验,如果一个或个以上的样品不合格,则逐批检验被认为不合格。5.5.3周期检验
周期检验每二年进行一次。周期检验应包括本规范表1要求的所有试验。5.5.3.1抽样方案
用GB5593中规定的形状和尺寸的4只样品按5.5.3条中规定进行周期检验。如果一个或一个以上的样品不合格,则该周期检验被认为不合格。TKAONKAca
5.5.4拒收批
SJ 20386—93
如果一批产品的逐批检验周期检验结果被拒收则为拒收批。直到供货方采取纠正措施并且经技术监督部门重新检验确认检验结果符合本规范的要求时,才能提交逐批检验。拒收批在别除不合格品后可以重新提供检验,值必须与其他批分开。5.6试验方法
5.6.1介电常数和摄耗指数
5. 6. 1. 11MHz 时的测量
介电常数和报耗指数应按GB5593标准中的规定在1MHz频率下进行测试。5.6. 1. 2在X一波段频率(当规定时)内的测量对于微被应用,介电常数和损耗指数应在8.2GHz到12.4GHz内的一些X-波段率内按照 GB 5597或GB 7265.1两种标准方法中的任一种方法来确定。5.6.2绝缘强度
绝缘强度应按照GB5593中3.1.5条的规庭进行测量:5.6.3抗弯强度
抗弯强度应按 GB 5593 中 3. 5 条的规定进行测量。5.6.4孔隙
将试样没入荧光性者色液中没泡,要求所有试样都能与誉色液接独,没泡10至15min,取出试样在癫水中冲洗10min,干燥后在紫外光(黑色)下进行检验。5.6.5热导率(当规定时)
热导率应按照GB5598的规定进行测量E说明事项
6. 1预定用途
本规范包括的材料预定用于部件和零作中作电气绝缘或在部分部件或设备中作绝缘体,本规范对这些材料给出了般起码的要求和按它们的性能分级。由于陶瓷的范围很广,包括瓷制品、滑石瓷、镁橄榄石瓷、塑性陶瓷、云母陶瓷、革背石瓷、徽晶玻璃、锆右瓷、硅灰石瓷,氧化鲤瓷、氧化铍瓷等,所以从L211到L10.4.4很宽的范围内都适用。本规范预计用作为一个对元件、零件、构件的图纸、规范和其他采购文件的补充。6.1.1本规范包括的各种绝缘材料在它们的谢游度变化或热冲击方面有差别。陶瓷的温度冲击耐久性主要决定于下列因素:S—抗拉强度
C.·热导率
a—线膨胀系数
E一弹性模量
比较不同陶瓷材料热冲击热阻(R)可以从下列关系式求出:R与SVC
成正出
SJ 20386--93
在设计中耐热冲击是一个很重要的囚素,下刻不同类型陶瓷材料的热膨胀系数数据可以用作指导订瀚瓷有关的耐热冲击性,可以用于应用热冲击最重要的地方;材料
氧化關瓷
徽晶玻璃
氮化硼瓷
青石瓷
锆石瓷
莫来石瓷
化铝瓷
氧化镀瓷
滑石瓷
镁橄榄君瓷
硅东石瓷
云母陶瓷
6.2订货资料
采购文件应规定如下:
(a)本规范名称、编号和日期:(b)所等级;
(e)要求的是小是X一波段绝缘材料:(d)要求的是不是高热导率绝缘材料(e)釉的颜色:
(f)基质材料是否要求上釉。
附加说明:
本规范由中国电了技术标准化研究所归口。热膨胀系数×10-6/℃
(25~300℃)
-0. 063~2, C
—0. 7~2. 0
热膨胀系数×10-6/℃
(25~~300℃)
本规范由中函电了技犬标准化研究所、1二所、番禺信华持陶公司负责起。本范主要起草人:王玉功、高陇乔、肖永光。本规范计划项月代号:R95们02。TKAONKAca-
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陶瓷电绝缘材料规范
Insulating compoundeletrical,ceramic,class L
1993-05-11发布
SJ20386-93
1993-07-01实施
中华人民共和国电子工业部:批准1范围
中华人民共和国申子行业军用标准陶瓷电绝缘材料规范
Insuiating comopound-clectrical,ceramic,elass L.
1.1主题内穿
本规范规定了陶资电绝缘材料L级的分类、要求、质量保证规定等,1.2适用范围
SJ203B6---93
本规范适用于电子通讯及同类电气设备用的低介电常数(12或12以下)陶瓷电绝缘材料L级及其分类。
1.3分类
本规范仅包括那些具有1.3.1至1.3.5条特殊规定的陶瓷绝缘材料包括:
介质损耗指数
(1. 3. 1)
(1.3.2.1)
1.3.1绝缘材料的标志
绝缘强度
(1.3.2.2)www.bzxz.net
绝缘材料用单一字母符号“L\表示。1.3.2分类标志
抗弯强度
(1.3,2.3)
X被段
越导率
(1. 3. 4)
表面处理
(1. 3. 5)
绝缘材料应在上述标志后面用三个号码(分类标志》进一步识别。第一个号码代表在1MHz题率下介质损耗指数;第二个号码代表绝缘强度,第三个号码代表抗弯强度(抗折强度)。按上述规定所述,在1MHz频率下介质损耗指数为0.016.绝缘强度为15至17.9,抗弯强度为100至139.9的绝缘材料可表示为L422。1.3.2.1.1MHz频率下的介质损耗指数介质损耗指数的标态是用在1MHz时所测得的试样的最大介质损耗指数值来确定,如下所东:
中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实施
YrKAOKAca
分类标志
1.3.2.2绝缘强度
SJ 20386-93
最大介质损耗指数
绝缘强度的标志是用被测试样品的平均绝缘强度确定,如下所示:分类标志
1.3.2.3抗弯强度(抗折强度)
平均绝缘强度(x10V/m)
抗弯强度(抗折强度)的标志是用被测试样品的平均抗弯弱度(抗折强度)来确定,如下所亲:
分类标志
1. 3. 3X—被段标志
平均抗弯强度(XMPa)
80 ~99. 9
100~139.9
180~199.9
200~249. 9
250~299.9
≥300
当绝缘材料要求使用题率从100MHz到24GHz时,它们将用\X\来表示这一额率范围,后面是一位数、斜线和二位数。其中位数代表8.2GHz到12,4GHz内的基些X一波段测得的介质损耗指数,用1.3.2.1条的分类标表来表示,二位数代表在一些X一波段频率时测得的介也常数(见 1. 3. 3. 1 条)。1.3.3.1X-被段时的介常数
介电常数的标志是用在8.2GHz到12.4GHz基些×-波没频事内测得的样品的介电常数来确定,如下所示:
分类标志
1.3.4热导率标志
SJ20386—93
介电常数
11.6~12
10.6~11. 5
9. 6~10. 5
8. 6~~9. 5
6. 6~6. 5
3,6~4. 5
2, 6~3. 5
当需要高热导率绝缘材料时,它们将用标志符号“T\来表示,即 L122T.或L422X6/04T..
1. 3. 5 表面特征
当绝缘材料需要进一步表示表面处理情况时,用单个字母符号“G”“M\或\C\来表示, L422G 或 L.422X6/04TG,或
引用文件
GB 2421—82
GB 559385
表面处理
表面上釉
表面需要研磨加工
自然表面(即烧结后不经过加工处理的表面)电工、电子产品基本环境试验规程、总则、电子元器件结构陶瓷材料
GB 5594. 1 -8--85
GB 5597—85
GB 5598—85
GB 7265. 1--87
GB 9530-88
3定义
电子光器件结构陶瓷材料性能测试方法固体电介质微渡复介电常数的测试方法氧化缺瓷导热系数测定方法
用微烧法测定固体电介质复介电常数电子陶瓷名询术语
3.1本规范所采用的名词术语定义符合GB9530的规定,3.2介质损耗指数
表征在电场中材料本身损耗的特征,其数值为介电常数与介质损耗角正切值的乘积。4要求
TTKAONKACa-
4.1鉴定
S3 20386-93
按照本规范提供的丝缘材料应是经过试验并且通过按5.4条规定的鉴定试验的产品。4.2材料
包括天然或经人工合成的无机材料(见6.2条)或者通过压制挤制或另外方法熔化或加热烧结而形成的复合物材料。
4.2.1釉料
根据本规范涉及的多晶材料应当是上精和不上轴当中的任何种,当规定基质材料上釉时,则上轴基材不应出现针孔裂纹或任何碎裂脱皮),基材不应用有机密封胶或涂复材料如硅树脂等没溃或另外处理,非晶材料,如玻璃或其他材料具有象玻璃一样的表面应当把它着作是轴化。
4.2.1.1颜色
途于基质材料上的精的颜应符合规定。4.31MHz频率时的介电常数和介质损耗指数当绝缘材料按5.6.1.1条中的规定进行试验时,介电常数应不大于12.介质损耗指数值应不大于在1.3.2.1条分级规定中所列出的数值。4.3.1X一波段(当规定时)时的介电常数和介质损耗指数当规定需要X一波段的介电常数和介质摄耗指数值时材料按5.6.1.2条规定进行试验,其介电常数和摄耗指数应与 1. 3. 3 条和 1. 3. 3. 1 条中的分级规定相一致。4.4绝缘强度
当绝缘材料按5.6.2条中规定进行试验时,平均绝缘强度不应小于1..2.2条分级规定中的最小值
4.5抗弯强度(抗折强度)
当绝缘材料按5.6.3策中的规定试验的平均抗强度(抗折强度)不应小于1.3.2.3条规定中列出的最小值。
4.6孔隙
当绝缘材料按5.6.4条的规定进行试验时,应无任何渗透染色痕迹。4.7热导率(当规定需要时)(见6.2条)当绝缘材料按5.6.5条中规定进行试验时.在40℃时的平均热导率不应小于231.7W?m-1k=1在125℃时不应小于172.9W*m-1k~1。任一样品测得的最低的热导率的值不应偏离平均值的20%。5质量保证规定
5. 1检验责任
除合同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,订购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任一检验项目进行检查。5,1.1 合格责任
所有产品必须符合本规范第四章和第六章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纳的一个组成部分,若合同中包括本规范规定的捡验要求,承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求,质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求订购方接收有缺陷的产品。4
5.2捡验分类
绝缘材料检查与试验分类如下:\。鉴定检验;
b.质量一致性检验。
5.3检验条件
SI 20386—93
除非另有规定,所有检验,应按GB2421所规定的正常的试验承件下进行。5.4鉴定检验
5.4.1检查和试验表格
抽样方法、试样尺寸、数量应符合GB5593表2的规定,鉴定检验应按表1中所规定的条件进行。
表1鉴定检验
检查或试验
上釉(当适用时)
1MHz时介电常数和介质损粘指数X一波段(当规定时)介电常数和介质摄耗指数绝缘强度
抗弯强度
热导率(当有规定时)
要求的章条号
若所有检验项目均符合本规范的规定,则认为鉴定检验合格,5.4.2鉴定合格资格的保持
检查或试验方法的意条号
5. 6. 1. 2
为「保持鉴定合格的资格,承制方每二年应全部重新进行鉴定试验。5.5质量一致性检验
质量一致性检验应包括逐批检验和周期检验。5.5.1批
包括仁何用基本相同的材料,在基本相同的条件下生产的间时在任何三个月内提交检验的本体材料为一批。
5.5.2逐批检验
逐批检验应在特定产品牌号材群的每批进行,逐批交收检验是批验收或拒收的基础.逐批交收检验应包括介电常数、介质损耗指数值的确定及与表示确定的被试产品相应级的规定值的比较(见1.3.2条和4.3.1条。)5.5.2:1抽样方案
用GB5593中规定的形状和尺寸的4只样品,按5.5.2条中规定进行逐批捡验,如果一个或个以上的样品不合格,则逐批检验被认为不合格。5.5.3周期检验
周期检验每二年进行一次。周期检验应包括本规范表1要求的所有试验。5.5.3.1抽样方案
用GB5593中规定的形状和尺寸的4只样品按5.5.3条中规定进行周期检验。如果一个或一个以上的样品不合格,则该周期检验被认为不合格。TKAONKAca
5.5.4拒收批
SJ 20386—93
如果一批产品的逐批检验周期检验结果被拒收则为拒收批。直到供货方采取纠正措施并且经技术监督部门重新检验确认检验结果符合本规范的要求时,才能提交逐批检验。拒收批在别除不合格品后可以重新提供检验,值必须与其他批分开。5.6试验方法
5.6.1介电常数和摄耗指数
5. 6. 1. 11MHz 时的测量
介电常数和报耗指数应按GB5593标准中的规定在1MHz频率下进行测试。5.6. 1. 2在X一波段频率(当规定时)内的测量对于微被应用,介电常数和损耗指数应在8.2GHz到12.4GHz内的一些X-波段率内按照 GB 5597或GB 7265.1两种标准方法中的任一种方法来确定。5.6.2绝缘强度
绝缘强度应按照GB5593中3.1.5条的规庭进行测量:5.6.3抗弯强度
抗弯强度应按 GB 5593 中 3. 5 条的规定进行测量。5.6.4孔隙
将试样没入荧光性者色液中没泡,要求所有试样都能与誉色液接独,没泡10至15min,取出试样在癫水中冲洗10min,干燥后在紫外光(黑色)下进行检验。5.6.5热导率(当规定时)
热导率应按照GB5598的规定进行测量E说明事项
6. 1预定用途
本规范包括的材料预定用于部件和零作中作电气绝缘或在部分部件或设备中作绝缘体,本规范对这些材料给出了般起码的要求和按它们的性能分级。由于陶瓷的范围很广,包括瓷制品、滑石瓷、镁橄榄石瓷、塑性陶瓷、云母陶瓷、革背石瓷、徽晶玻璃、锆右瓷、硅灰石瓷,氧化鲤瓷、氧化铍瓷等,所以从L211到L10.4.4很宽的范围内都适用。本规范预计用作为一个对元件、零件、构件的图纸、规范和其他采购文件的补充。6.1.1本规范包括的各种绝缘材料在它们的谢游度变化或热冲击方面有差别。陶瓷的温度冲击耐久性主要决定于下列因素:S—抗拉强度
C.·热导率
a—线膨胀系数
E一弹性模量
比较不同陶瓷材料热冲击热阻(R)可以从下列关系式求出:R与SVC
成正出
SJ 20386--93
在设计中耐热冲击是一个很重要的囚素,下刻不同类型陶瓷材料的热膨胀系数数据可以用作指导订瀚瓷有关的耐热冲击性,可以用于应用热冲击最重要的地方;材料
氧化關瓷
徽晶玻璃
氮化硼瓷
青石瓷
锆石瓷
莫来石瓷
化铝瓷
氧化镀瓷
滑石瓷
镁橄榄君瓷
硅东石瓷
云母陶瓷
6.2订货资料
采购文件应规定如下:
(a)本规范名称、编号和日期:(b)所等级;
(e)要求的是小是X一波段绝缘材料:(d)要求的是不是高热导率绝缘材料(e)釉的颜色:
(f)基质材料是否要求上釉。
附加说明:
本规范由中国电了技术标准化研究所归口。热膨胀系数×10-6/℃
(25~300℃)
-0. 063~2, C
—0. 7~2. 0
热膨胀系数×10-6/℃
(25~~300℃)
本规范由中函电了技犬标准化研究所、1二所、番禺信华持陶公司负责起。本范主要起草人:王玉功、高陇乔、肖永光。本规范计划项月代号:R95们02。TKAONKAca-
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