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【电子行业标准(SJ)】 半导体发光器件测试方法 总则

本网站 发布时间: 2024-07-13 19:16:25
  • SJ2355.1-1983
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 2355.1-1983

  • 标准名称:

    半导体发光器件测试方法 总则

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1983-08-15
  • 实施日期:

    1984-07-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

标准分类号

  • 标准ICS号:

    电子学>>31.260光电子学、激光设备
  • 中标分类号:

    能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理

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出版信息

  • 页数:

    1页
  • 标准价格:

    8.0 元

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SJ 2355.1-1983 半导体发光器件测试方法 总则 SJ2355.1-1983

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业部部标准SJ 2355.183
半导体发光器件测试方法
1983-08-15发布
1984-07-01实施
中华人民共和国电子工业部
中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
SJ2355.1-83
本标准适用于半导体发光器件光、电参数的测试。其光电参数的测试按相应的标准的规定进行。1测试光学参数时,光参数的测试系统的误差不大于25%。2对测试仪表的要求
2.1直流电表的误差
2.1.1电参数指示用电表(包括扩展量程后的电表)的误差不超过土1.5%。2.1.2工作点指示用电表的误差不超过±2.5%。2.1.3测试10uA以下的直流电流时,允许采用误差不超过±4%的电表。2.1.4参数指示用的直流电压表的内阻应足够大,使其流过的电流小于被测管T作电流的10%。2.1.5参数指示用的直流电流表的内阻应足够小,使其流过的电流在其上产生的最大压降不超过被测管的5%。
2.2电容测试仪表的误差不大于20%。3对电源的要求
3.1在测试设备中用交流整流作直流电源时,其波纹系数不大于0.5%。3.2恒流源和稳压源的电流、电压在给定范围内的误差不大于2%。4测试环境条件
4.1除已有的规定外,所有的试验测量和恢复均在下列大气条件下进行。环境温度:15~35℃l
相对湿度:45%~75%;
大气压力:86~106kPa。
4.2若被测系数依赖于温度、湿度及压力,可按下列判定大气条件:环境温度:25±1℃:bzxZ.net
相对湿度:48%~52%;
大气压力:86~106kPa。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
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