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- SJ 50597.44-1997 半导体集成电路 JB42型调制解调器详细规范
【行业标准】 半导体集成电路 JB42型调制解调器详细规范
本网站 发布时间:
2024-06-21 17:20:55
- SJ50597.44-1997
- 现行
标准号:
SJ 50597.44-1997
标准名称:
半导体集成电路 JB42型调制解调器详细规范
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行出版语种:
简体中文下载格式:
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标准内容
部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/4497
半导体集成电路
JB42型调制解调器详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JB42 modulator/demodulator1997-06-17发布
1997-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准范围
1.1主题内容
1.2适用范围
1.3分类
绝对最大额定值
1.5推荐工作条件
2引用文件
3要求
3.1详细要求
3.2、设计、结构和外形尺寸
3.3引线材料和镀涂
3.4电特性
3.5电试验要求
3.6标志
4质量保证规定
4.1抽样和检验
4.2筛选…
4.3鉴定检验:
质量一致性检验
4.5检验方法·
5交货准备
5.1包装要求
6说明事项…
6.1订货资料.
6.2、缩写词、符号和定义
6.3替代性
6.4设计保证参数
. (10)
(12)
. (16)
TYKAONKACa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JB42型调制解调器详细规范
Semaicnnductor inrgrated circuitsDelail specification for type JB42 modulator/demodulator1范围
SJ 50597/44—97
1.1主题内容
本规范规定了半导体集戏电路JB42型调制解调器(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应符合GJB597A-96<半导体集成电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件型号
1.3.1.2器件等级
器件名称
调制解谢器
器件等级应为GJB597A-96第3.4条规定的B级和B1级。1.3.1.3封装形式
封装形式应按GB/T7092-93(半导体集成电路处形尺寸>的规定。封装形武如下:
中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布外形代号
D1452(14线陶瓷效列封装)
1997.10-01实施
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
正电源电压
负电源电压
贮存温度
引线耐焊接温度
共模输人电压幅度
差分输入幅度
1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下:
正电源电压
负电源电乐
工作环境摄度
2引用文件
SJ 50597/44-97
VikM(PP)
Ye- Vio
±(5+I,R)
GR3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文宇符号引出端功能符号
GB3431.2-86毕导体集成电路文字符号GB/T7092—93半导体集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程序
GJB548A-96
半导体集成电路总规范
GIB 597A—96
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB597A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计,结构和外形尺寸应按CJB S97A和本规范的规定。3.2.1引出端排列
TTKAONKAa-
SJ 50597/44-97
引出端排列应符合图1的规定
引出端排列为俯视图、
3.2.2电路图
电路图应符合图2规定。
1ADJ ZADJ, INBI OUT+ NC
图 引出端排列
图2电路图
注:1)该端为信号输入增。
2)该端为增益调节瑞。
3)该端为载波输入端。
3.2.3封装形式
SJ 50597/44-97
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。外形应符合图2的规定。3.3引出端材料和镀涂
引出端材料和镀涂应按 GIB 597A 第 3.5.6 条的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
表1电特性
载彼馈通
载波抑制比
(载波调零)
信号抑制比
(载波调零)
相乘输出
(戴波调零)
低频号增益
输入偏置电流
输入失调电流
输人失调电
流湿度系数
差分输出电玉幅度
信号端共模增益
输出失调电流
电源电流
arkxCh
Vorre)
(若无其他规定,见图 4, 图 5. 图 6,图 7, TA =25CRe\ 0. 5kV, Vcr = 12V, Ver = - BV, I, = 1.0mA)Ve= 5UmV(rma) fc= 6UMHz 正弦波失调调零
Ve- 50mV(rms) fe -60MHz 正弦波Vg= 300mV(mms) fs= IMHz 正弦波Ve=50mV(rms)fe=60MHz正弦波
Vs=300mV(rms)fs=1MFz正张波
Vc=50mV(rums)fc=60MHz正弦波
Vg=300mV(rms) fs=1MHz H弦波
V,= l00mV(rms) fs= 1.0kHz [ Vel=0.5VR=3.9ko,Rz=1.0kn
Rr-1.0kn Ta= -55~125c
Rr=1.0kn T,--55~-125t
TA = 55 - 125C
T, =-55~125C
Th 7-55~1250
T=-55~125
Rt. - 3.9kn, Rg- 1.0kn
fs=1.0kHz 1Ve/-0.5V
fuc=1.0kHz!Ve!
Vrc= 1(OmV(rms)
=0.5VR,.=3.9kn.R,=1.0ka
T,=-55~125℃
Re= 1.0kQ
Ta= ·55--125℃
注;fs为信号频率,fc为载波频率,Vs(rms)为信号度,Vc(rms)为载波幅度。4
规范值
100 nA/C
TYKAOIKAca-
3.5电试验要求
SI50597/44-97
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组,各分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求
中间(老炼前)电测试
中间(老炼后)电測试
最终电测试
A组试验要求
C组终点电测试
D组终点电测试
注:1)该分距要求PDA计算。
e,1uF=
A1、A4
A1\、A4)
A2、A3
组 (见表3)
A1,A2、A3、A4
A1、A4和表9极限
Al、A4
图3Im(s)lic ios locy(ovao(siC)lccle测试电路注:①所有1000电阻误差小于等于±0.5%,其余电准误差小于等于±1%所有电容、电感误差小于等于±5%s
TA=25C
TA=125C
I to(s)
表3电测试
引出端条件
(者无其他规定,测试电路图见图3,图4.图5,图6)5
:100n1
1o006.8k0
1000 6.8k0
:10021000
10001000
被測端
计算分式
Imts) - (I, + I2)/2
In(c) -(Ig +14)/2
Iiox s) - ls - Iel
Irot c) = II-- Ial
Ioo= IIg- Iiol
Icc= I11 + 112
Im() - (I14+ Ias)/2
Im(t) =(I + I1)/2
KAoNiKAca-
规范佗
最小最大
150597/44-97
续表3
(荐无其他规定,测试电路图见图3.图4.图5,图6)4
131000
FBrS)14
Ta= -55c
[61000
Irotc :t7
18:100n
6.8kn0.047F
10001000
被渊端
编数单
6:I2mA
12jlzamA
14I24mA
[IzsreA
计葬公式
I tors) = lI18 - Itgl
I rouct = I I20 Izil
Icc = I22 + Iz3
Ire= Iz
IiR(S) = ( I2 + I2n)/2
Iim(s) = (I2n + Iz8)/2
I uoxs) = / I29 - Iao l
Imes - II 31 - I32 /
Ice = | I33 + f3l
最小最大
50597/44--97
符号试
19100m
Ta= -55℃
amoxs)20
续表3
(若无其他规定,测试电路图见图3,图4.图5图6)2、3
ADINs-
2110001km免费标准下载网bzxz
TA-25t
Vorp27
.47μF
1000000
b.01μFp.01μF0.01μF
被測端
14135jmA IE-135
t算分式
TKAONiKAca=
规范值
最小大
0 - I:el -IIzg - I0l]
II+ e - I21/ - I'3 - I 2!!
125-(=35)
VeFTt(ma) = E,\)
KesR - 20tog[ E2(A)/E2(B) J2)EzdB!
K ss = 201og[ E 3t a,/Eara j3)或B
[12Em vo-E.\
[Acm = 201og(Es/ VI Acm)5)
EeN/V Avs- E6/ Vlavs)6
注;1)E1为VcFT拳数测试时,输出在载波频率处的幅度值。2)E2(A)为KcsR参数测试时,输出在载波与信号的和或差赖处的幅度值,Fz[m划为输出在信号频率处的幅度值。3)E《A)为KsS参数测试时,输出在载波与信号的和频或差频处的幅度值,E()则为输出在信号额率处的幅度值。4)E为V。套数翘试时,辅出在转波与信号的和题或差频处的幅虚值。5)ViAcm)为AcM参数测试时,输入信号的幅度值。6)V(vs)为 Avs整数测试时,输入信号的幅度值。VorFPI=E-+ E:
150597/44-
ne.e1url5en
SI50597/44—97
Le.emrr-u
图4VcFT、KcsR、KssR、V。测试电路注:0所有电阻误差小于±1%
②所有电容、电感误差小于等手±5%1)该电容误差小于等于±10%
图5Avs、Vorp)测试电路
注:①所有电阻误差小于等于±1%所有电容误筹小于等于主5%,Vr ±0.$V8.2ks2
18euHVec
注:①所有电阻误差小于等于±1%SJ 50597/4497
图6Aca测试电路
②所有电容误差小于等于土5%,1Vc1=0.5V3.6标志
标志应按GJB597A第3.6条的规定。4质量保证规定
41抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB597A和本规范的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB548A方法5004A和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
条件和要求(GJB548A)
筛选项目
内部目检
(前)
稳定性烘培(不要
求终点电测试)
温度循环
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150t.24h)
试验条件℃
(10次循环)
BI级器件
试验条件 B
试验条件C
(150,24h)
试验涤件 C
(10次循环)
可用方法1011A
试验条件A替代。
TKAONKAa-
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SJ 50597/4497
半导体集成电路
JB42型调制解调器详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JB42 modulator/demodulator1997-06-17发布
1997-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准范围
1.1主题内容
1.2适用范围
1.3分类
绝对最大额定值
1.5推荐工作条件
2引用文件
3要求
3.1详细要求
3.2、设计、结构和外形尺寸
3.3引线材料和镀涂
3.4电特性
3.5电试验要求
3.6标志
4质量保证规定
4.1抽样和检验
4.2筛选…
4.3鉴定检验:
质量一致性检验
4.5检验方法·
5交货准备
5.1包装要求
6说明事项…
6.1订货资料.
6.2、缩写词、符号和定义
6.3替代性
6.4设计保证参数
. (10)
(12)
. (16)
TYKAONKACa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JB42型调制解调器详细规范
Semaicnnductor inrgrated circuitsDelail specification for type JB42 modulator/demodulator1范围
SJ 50597/44—97
1.1主题内容
本规范规定了半导体集戏电路JB42型调制解调器(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应符合GJB597A-96<半导体集成电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件型号
1.3.1.2器件等级
器件名称
调制解谢器
器件等级应为GJB597A-96第3.4条规定的B级和B1级。1.3.1.3封装形式
封装形式应按GB/T7092-93(半导体集成电路处形尺寸>的规定。封装形武如下:
中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布外形代号
D1452(14线陶瓷效列封装)
1997.10-01实施
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
正电源电压
负电源电压
贮存温度
引线耐焊接温度
共模输人电压幅度
差分输入幅度
1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下:
正电源电压
负电源电乐
工作环境摄度
2引用文件
SJ 50597/44-97
VikM(PP)
Ye- Vio
±(5+I,R)
GR3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文宇符号引出端功能符号
GB3431.2-86毕导体集成电路文字符号GB/T7092—93半导体集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程序
GJB548A-96
半导体集成电路总规范
GIB 597A—96
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB597A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计,结构和外形尺寸应按CJB S97A和本规范的规定。3.2.1引出端排列
TTKAONKAa-
SJ 50597/44-97
引出端排列应符合图1的规定
引出端排列为俯视图、
3.2.2电路图
电路图应符合图2规定。
1ADJ ZADJ, INBI OUT+ NC
图 引出端排列
图2电路图
注:1)该端为信号输入增。
2)该端为增益调节瑞。
3)该端为载波输入端。
3.2.3封装形式
SJ 50597/44-97
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。外形应符合图2的规定。3.3引出端材料和镀涂
引出端材料和镀涂应按 GIB 597A 第 3.5.6 条的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
表1电特性
载彼馈通
载波抑制比
(载波调零)
信号抑制比
(载波调零)
相乘输出
(戴波调零)
低频号增益
输入偏置电流
输入失调电流
输人失调电
流湿度系数
差分输出电玉幅度
信号端共模增益
输出失调电流
电源电流
arkxCh
Vorre)
(若无其他规定,见图 4, 图 5. 图 6,图 7, TA =25CRe\ 0. 5kV, Vcr = 12V, Ver = - BV, I, = 1.0mA)Ve= 5UmV(rma) fc= 6UMHz 正弦波失调调零
Ve- 50mV(rms) fe -60MHz 正弦波Vg= 300mV(mms) fs= IMHz 正弦波Ve=50mV(rms)fe=60MHz正弦波
Vs=300mV(rms)fs=1MFz正张波
Vc=50mV(rums)fc=60MHz正弦波
Vg=300mV(rms) fs=1MHz H弦波
V,= l00mV(rms) fs= 1.0kHz [ Vel=0.5VR=3.9ko,Rz=1.0kn
Rr-1.0kn Ta= -55~125c
Rr=1.0kn T,--55~-125t
TA = 55 - 125C
T, =-55~125C
Th 7-55~1250
T=-55~125
Rt. - 3.9kn, Rg- 1.0kn
fs=1.0kHz 1Ve/-0.5V
fuc=1.0kHz!Ve!
Vrc= 1(OmV(rms)
=0.5VR,.=3.9kn.R,=1.0ka
T,=-55~125℃
Re= 1.0kQ
Ta= ·55--125℃
注;fs为信号频率,fc为载波频率,Vs(rms)为信号度,Vc(rms)为载波幅度。4
规范值
100 nA/C
TYKAOIKAca-
3.5电试验要求
SI50597/44-97
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组,各分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求
中间(老炼前)电测试
中间(老炼后)电測试
最终电测试
A组试验要求
C组终点电测试
D组终点电测试
注:1)该分距要求PDA计算。
e,1uF=
A1、A4
A1\、A4)
A2、A3
组 (见表3)
A1,A2、A3、A4
A1、A4和表9极限
Al、A4
图3Im(s)lic ios locy(ovao(siC)lccle测试电路注:①所有1000电阻误差小于等于±0.5%,其余电准误差小于等于±1%所有电容、电感误差小于等于±5%s
TA=25C
TA=125C
I to(s)
表3电测试
引出端条件
(者无其他规定,测试电路图见图3,图4.图5,图6)5
:100n1
1o006.8k0
1000 6.8k0
:10021000
10001000
被測端
计算分式
Imts) - (I, + I2)/2
In(c) -(Ig +14)/2
Iiox s) - ls - Iel
Irot c) = II-- Ial
Ioo= IIg- Iiol
Icc= I11 + 112
Im() - (I14+ Ias)/2
Im(t) =(I + I1)/2
KAoNiKAca-
规范佗
最小最大
150597/44-97
续表3
(荐无其他规定,测试电路图见图3.图4.图5,图6)4
131000
FBrS)14
Ta= -55c
[61000
Irotc :t7
18:100n
6.8kn0.047F
10001000
被渊端
编数单
6:I2mA
12jlzamA
14I24mA
[IzsreA
计葬公式
I tors) = lI18 - Itgl
I rouct = I I20 Izil
Icc = I22 + Iz3
Ire= Iz
IiR(S) = ( I2 + I2n)/2
Iim(s) = (I2n + Iz8)/2
I uoxs) = / I29 - Iao l
Imes - II 31 - I32 /
Ice = | I33 + f3l
最小最大
50597/44--97
符号试
19100m
Ta= -55℃
amoxs)20
续表3
(若无其他规定,测试电路图见图3,图4.图5图6)2、3
ADINs-
2110001km免费标准下载网bzxz
TA-25t
Vorp27
.47μF
1000000
b.01μFp.01μF0.01μF
被測端
14135jmA IE-135
t算分式
TKAONiKAca=
规范值
最小大
0 - I:el -IIzg - I0l]
II+ e - I21/ - I'3 - I 2!!
125-(=35)
VeFTt(ma) = E,\)
KesR - 20tog[ E2(A)/E2(B) J2)EzdB!
K ss = 201og[ E 3t a,/Eara j3)或B
[12Em vo-E.\
[Acm = 201og(Es/ VI Acm)5)
EeN/V Avs- E6/ Vlavs)6
注;1)E1为VcFT拳数测试时,输出在载波频率处的幅度值。2)E2(A)为KcsR参数测试时,输出在载波与信号的和或差赖处的幅度值,Fz[m划为输出在信号频率处的幅度值。3)E《A)为KsS参数测试时,输出在载波与信号的和频或差频处的幅度值,E()则为输出在信号额率处的幅度值。4)E为V。套数翘试时,辅出在转波与信号的和题或差频处的幅虚值。5)ViAcm)为AcM参数测试时,输入信号的幅度值。6)V(vs)为 Avs整数测试时,输入信号的幅度值。VorFPI=E-+ E:
150597/44-
ne.e1url5en
SI50597/44—97
Le.emrr-u
图4VcFT、KcsR、KssR、V。测试电路注:0所有电阻误差小于±1%
②所有电容、电感误差小于等手±5%1)该电容误差小于等于±10%
图5Avs、Vorp)测试电路
注:①所有电阻误差小于等于±1%所有电容误筹小于等于主5%,Vr ±0.$V8.2ks2
18euHVec
注:①所有电阻误差小于等于±1%SJ 50597/4497
图6Aca测试电路
②所有电容误差小于等于土5%,1Vc1=0.5V3.6标志
标志应按GJB597A第3.6条的规定。4质量保证规定
41抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB597A和本规范的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB548A方法5004A和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
条件和要求(GJB548A)
筛选项目
内部目检
(前)
稳定性烘培(不要
求终点电测试)
温度循环
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150t.24h)
试验条件℃
(10次循环)
BI级器件
试验条件 B
试验条件C
(150,24h)
试验涤件 C
(10次循环)
可用方法1011A
试验条件A替代。
TKAONKAa-
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