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【行业标准】 半导体光电子器件GD3252Y型光电二极管详细规范
本网站 发布时间:
2024-06-21 18:38:22
- SJ50033.113-1996
- 现行
标准号:
SJ 50033.113-1996
标准名称:
半导体光电子器件GD3252Y型光电二极管详细规范
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行出版语种:
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SJ 50033.113-1996 半导体光电子器件GD3252Y型光电二极管详细规范 SJ50033.113-1996
标准内容
部分标准内容:
中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件
GD3252Y型光电二极管详细规范
SemiconductoroptoelectronicdevicesDetail specification for type GD3252Y photodiodes1范围
1.1主题内容
SJ50033/113-96
本规范规定了GD3252Y型光电二极管(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
1.3.1器件等级
本规范所提供的器件保证等级按GJB33(半导体分立器件总规范》的规定,从低到高分为普军级(GP)和特军级(GT)两级。2引用文件
GB11499-89
GIB33-85
GJB128-86
GIB597-88
SJ2354-83
半导体分立器件文字符号
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
微电路总规范
PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ/Z9014.2-87半导体器件分立器件和集成电路第5部分光电子器件3要求
3.1详细要求
各条要求应符合GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应符合GJB33和本规范的规定,芯片结构为PIN,也可按合同的要求提供不同于图1规定的外形尺寸(见6.2条)。中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1997-01-01实施
3.2.1器件芯片材料
芯片材料为硅。
3.2.2引出端排列
3.2.3封装形式
全密封金属管壳平面玻璃窗口。3.2.4引线长度
SJ50033/113-96
图1外形尺寸
尺寸符号
最小值
最大值
7.62标称值)
负极(接外壳)
可按合同的要求(见6.2条)提供引线长度不同于图1规定的器件。3.3引线材料及涂层
引线材料为可伐合金,引线涂层应镀金。也可按合同要求(见6.2条)选择涂层。3.4最大额定值和主要光电特性bZxz.net
3.4.1最大额定值
-45-85
-55~100
SJ50033/113-96
注:1)最长焊接时间不超过5s,至管壳的最短距离5mm。2主要光电特性(Tamb=25℃)
暗电流
高温下的暗电流
灵敏度
蜂值响应波长
光谱响应波长范围
噪声等效功率
上升时间
下降时间
总电容
反向击穿电压
光敏元面积
3.5标志
E=0.VR=10mV
Em0.V=10mV,Tmb=85
E.=5uW/mm2Vg=10mV
入=0.90μm
E.=5μW/mm2
E.=5μW/mm2
Vr=10mV
VR=10mV最
短和最长波长下的灵敏度至少
应为峰值响应波长灵敏度的
E,=5μW/mm2
VR=10mV
入=0.90μmf=1kHz
Af=1Hz
E=1mW/mm2V,=10mV
入=0.90μm
Rt=500
VR=10mV.f=1MHz
IR=100A
器件的标志应符合GJB33的规定。质量保证规定
抽样和检验
1.3×10-14
6×6(标称值)
μA/μW
W·Hz-1/2
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.1.1表2A1分组进行检验和试验的器件可以用于A2分组的检验和试验,A2分组进行检验和试验的器件可以用于A3、A4和A7分组的检验和试验;通过A组各分组检验和试验的器件,可以作为检验和试验抽样的母体,鉴定试验总样品量(指通过A组检验批的数量)至少应等于抽样数的1.5倍,抽样表可以采用GJB597中的小数量抽样表。4.1.2表3B1分组、B4分组的检验和试验可以采用光电特性不符合3.4.2条要求的器件。4.1.3,按表4C1分组进行检验的器件可以用于表4C2分组的检验和试验。3
4.2筛选(仅对GT级)
SJ50033/113-96
GT级器件应按GJB33和本规范表1中规定的步骤和条件进行百分之百的筛选试验,并按GJB33的有关规定处理。
4.3鉴定检验
鉴定检验应符合GJB33和本规范表2、表3和表4的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应包括A组、B组和C组中规定的检验和试验。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按表2、表3、表4和表5的规定进行。4.6检验数据
如果合同中已作规定(见6.2条),制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。表1筛选的步骤和条件(仅对GT极)检验和试验
1.内部目检
(封辑前)
2.高温寿命
(不工作)
3.热冲击
(温度循环)
4.恒定加速度
a.细检漏
6.中间光电参数
暗电流
灵敏度
7、电老化
GJB128.2074
GJB128,1032
GJB128.1051
GJB128.2006
GJB128,1071
GJB1281038
试验条件B
Tsm=100℃1=72h
除最高温度100t,循环次数10
次外,其余按试验条件A
不工作,加速度98000m/s,
Y,方向
试验条件H,器件最大漏泄率为
50mpa.cm2/s
试验条件C,氟油温度100℃
E.=0,Vr=10mV
E,=5μW/1mm?V=10mV
入=0.90μm
Tamb=85℃
VR=8V.1=96h
极限值
μA/μW
检验和试验
8.最后测试
暗电流变化量
灵敏度变化量
9.外观及机械
检验和试验
AI分组
外观和机械检验
A2分组
暗电流
灵敏度
反向击穿电压
A3分组
高温试验
暗电流
低温试验
(不适用)
A4分组
峰值响应波长
光谱响应波长
总电容
AIR(D)
SJ50033/113-96
续表1
E=0.Vr=10mV
E,=5μW/mm2.Vg=10mV
入=0.90μm
GJB128.2071
GJB128
A1~AHSJ2354.7
打标志之后进行
表2A组检验
除非另有规定,
Tamb=25c
V-10mV,E,=0
入=0.90μm,V=10mV
E.=5μW/mm2
IR=100μA
Tm=85℃
V,=10mV,E,=0
E,=5μW/mm2
Vr=10mV
E,=5μW/mm2
V=10mV.最短和
最长波长下的灵敏
度至少应为峰值响
应波长的1/10
VR=10mV,f=1MHz
极限值
1IVD或
大者为准
外观无缺陷,涂
层无锈蚀
极限值
小最大
ΦD1,ΦD2,A应
符合图1要求,外
观无缺陷,涂层无
μA/μW
pA/μW
检验和试验
A7分组
噪声等效功率
上升时间
下降时间
检验和试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击
(温度循环)
密封试验
a.细检漏
b.粗检漏
最后测试
B3分组
稳态工作寿命
最后测试
B4分组
开帽内部观检
(设计检验)
键合强度
B5分组
(不适用)
B6分组
高温寿命
(不工作)
最后测试
SJ50033/113-—96
续表2
除非另有规定,
Tamb=25℃
入=0.90μmV=10mV
E=5μW/mm2
f=1kHz,Af=1Hz
VR=10mV
5=0.90μm
E.=1mW/mm2
RL=500
表3B组检验
GJB128
T=238~260t,1=5s
极限值
4×10~14
WHz-1/2
抽样数(合格判定数)
或LTPD
除最高温度100℃,循环次数10次外,其余按试验条件A
试验条件H,最大漏率为50mpa.cm/s试验条件C.氟油温度100℃
见本规范表5步骤1和2
Tmb=85℃,V,=8V,t=340h
见本规范表5步骤3和4
目检标准按鉴定时的设计。
试验条件A,最低键合强长20mN,1032
T=100C,t=340h
见本规范表5步骤3和4。
检验和试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击(玻璃应力)
引出端强度
a.细检漏
b.粗检漏
综合温度/湿度周期试验
外观及机械检验
最后测试
C3分组
变频振动
恒定加速度
C4分组
(不要求)
C5分组
低气压
(不要求)
C6分组
稳态工作寿命
最后测试
检验和试验
暗电流
灵敏度
暗电流1)
灵敏度1)
SJ50033/113—96
表 4C组检验
GJB128
见本规范图1
试验条件A
试验条件E
试验条件H,最大漏泄率为50mpa.cm/s试验条件C,氟油温度100℃
省略初始条件,除循环次数6次,辅用循环应在头4次循环中的任意2次循环进行外,其余按规定外观无缺陷,涂层无锈蚀
见本规范表5步骤1和2
不工作,加速度:4900m/s20.5ms,X1、Y1方向各冲击5次
不工作,加速度:196m/sXI、Y1方向各4次,t=32min,f:100~2000Hz
不工作,加速度,98000m/s,Y,方向Tamb=85,Vr=8V,t=1000h
见本规范表5,步骤3和4
B组和C组试验后光电特性测试
E.=0,VR=10mV
入=0.90μm,E.=5uW/mm
Vr=10mV
E,=0,VR=10mV
入=0.90μm,E=5μW/mm2
Vr=10mV
注:1)对本试验超过A组极限值的器件不能向用户提供。极限值
μA/μW
μA/μW
5交货准备
SJ50033/113-96
包装、贮存和运输要求应符合GJB33的规定。6说明事项
6.1预定用途
主要用于光电靶探测系统,也可用于其它光电探测和光电转换系统。6.2订货文件内容
合同或订单中应注明下列内容:a.
本规范名称和编号;
器件型号和等级;
数量:
如果外形尺寸不同于图1,应规定外形尺寸(见3.2条);如果引线长度不同于图1,应规定引线长度(见3.2.4条):如果引线不是镀金,应规定涂层(见3.3条);检验数据(见4.6条);
h.其它。
6.3术语、符号和定义
本规范使用的术语和符合应符合GJB11499、SJ/Z9014.2和本规范的下列规定。6.3.1符号
a.IVD一单个器件的初始值;
b.d。一光敏元直径。
附加说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第四十四研究所负责起草。本规范主要起草人:王雨苏、唐诗才。计划项目代号:B41030
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
GD3252Y型光电二极管详细规范
SemiconductoroptoelectronicdevicesDetail specification for type GD3252Y photodiodes1范围
1.1主题内容
SJ50033/113-96
本规范规定了GD3252Y型光电二极管(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
1.3.1器件等级
本规范所提供的器件保证等级按GJB33(半导体分立器件总规范》的规定,从低到高分为普军级(GP)和特军级(GT)两级。2引用文件
GB11499-89
GIB33-85
GJB128-86
GIB597-88
SJ2354-83
半导体分立器件文字符号
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
微电路总规范
PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ/Z9014.2-87半导体器件分立器件和集成电路第5部分光电子器件3要求
3.1详细要求
各条要求应符合GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应符合GJB33和本规范的规定,芯片结构为PIN,也可按合同的要求提供不同于图1规定的外形尺寸(见6.2条)。中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1997-01-01实施
3.2.1器件芯片材料
芯片材料为硅。
3.2.2引出端排列
3.2.3封装形式
全密封金属管壳平面玻璃窗口。3.2.4引线长度
SJ50033/113-96
图1外形尺寸
尺寸符号
最小值
最大值
7.62标称值)
负极(接外壳)
可按合同的要求(见6.2条)提供引线长度不同于图1规定的器件。3.3引线材料及涂层
引线材料为可伐合金,引线涂层应镀金。也可按合同要求(见6.2条)选择涂层。3.4最大额定值和主要光电特性bZxz.net
3.4.1最大额定值
-45-85
-55~100
SJ50033/113-96
注:1)最长焊接时间不超过5s,至管壳的最短距离5mm。2主要光电特性(Tamb=25℃)
暗电流
高温下的暗电流
灵敏度
蜂值响应波长
光谱响应波长范围
噪声等效功率
上升时间
下降时间
总电容
反向击穿电压
光敏元面积
3.5标志
E=0.VR=10mV
Em0.V=10mV,Tmb=85
E.=5uW/mm2Vg=10mV
入=0.90μm
E.=5μW/mm2
E.=5μW/mm2
Vr=10mV
VR=10mV最
短和最长波长下的灵敏度至少
应为峰值响应波长灵敏度的
E,=5μW/mm2
VR=10mV
入=0.90μmf=1kHz
Af=1Hz
E=1mW/mm2V,=10mV
入=0.90μm
Rt=500
VR=10mV.f=1MHz
IR=100A
器件的标志应符合GJB33的规定。质量保证规定
抽样和检验
1.3×10-14
6×6(标称值)
μA/μW
W·Hz-1/2
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.1.1表2A1分组进行检验和试验的器件可以用于A2分组的检验和试验,A2分组进行检验和试验的器件可以用于A3、A4和A7分组的检验和试验;通过A组各分组检验和试验的器件,可以作为检验和试验抽样的母体,鉴定试验总样品量(指通过A组检验批的数量)至少应等于抽样数的1.5倍,抽样表可以采用GJB597中的小数量抽样表。4.1.2表3B1分组、B4分组的检验和试验可以采用光电特性不符合3.4.2条要求的器件。4.1.3,按表4C1分组进行检验的器件可以用于表4C2分组的检验和试验。3
4.2筛选(仅对GT级)
SJ50033/113-96
GT级器件应按GJB33和本规范表1中规定的步骤和条件进行百分之百的筛选试验,并按GJB33的有关规定处理。
4.3鉴定检验
鉴定检验应符合GJB33和本规范表2、表3和表4的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应包括A组、B组和C组中规定的检验和试验。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按表2、表3、表4和表5的规定进行。4.6检验数据
如果合同中已作规定(见6.2条),制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。表1筛选的步骤和条件(仅对GT极)检验和试验
1.内部目检
(封辑前)
2.高温寿命
(不工作)
3.热冲击
(温度循环)
4.恒定加速度
a.细检漏
6.中间光电参数
暗电流
灵敏度
7、电老化
GJB128.2074
GJB128,1032
GJB128.1051
GJB128.2006
GJB128,1071
GJB1281038
试验条件B
Tsm=100℃1=72h
除最高温度100t,循环次数10
次外,其余按试验条件A
不工作,加速度98000m/s,
Y,方向
试验条件H,器件最大漏泄率为
50mpa.cm2/s
试验条件C,氟油温度100℃
E.=0,Vr=10mV
E,=5μW/1mm?V=10mV
入=0.90μm
Tamb=85℃
VR=8V.1=96h
极限值
μA/μW
检验和试验
8.最后测试
暗电流变化量
灵敏度变化量
9.外观及机械
检验和试验
AI分组
外观和机械检验
A2分组
暗电流
灵敏度
反向击穿电压
A3分组
高温试验
暗电流
低温试验
(不适用)
A4分组
峰值响应波长
光谱响应波长
总电容
AIR(D)
SJ50033/113-96
续表1
E=0.Vr=10mV
E,=5μW/mm2.Vg=10mV
入=0.90μm
GJB128.2071
GJB128
A1~AHSJ2354.7
打标志之后进行
表2A组检验
除非另有规定,
Tamb=25c
V-10mV,E,=0
入=0.90μm,V=10mV
E.=5μW/mm2
IR=100μA
Tm=85℃
V,=10mV,E,=0
E,=5μW/mm2
Vr=10mV
E,=5μW/mm2
V=10mV.最短和
最长波长下的灵敏
度至少应为峰值响
应波长的1/10
VR=10mV,f=1MHz
极限值
1IVD或
大者为准
外观无缺陷,涂
层无锈蚀
极限值
小最大
ΦD1,ΦD2,A应
符合图1要求,外
观无缺陷,涂层无
μA/μW
pA/μW
检验和试验
A7分组
噪声等效功率
上升时间
下降时间
检验和试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击
(温度循环)
密封试验
a.细检漏
b.粗检漏
最后测试
B3分组
稳态工作寿命
最后测试
B4分组
开帽内部观检
(设计检验)
键合强度
B5分组
(不适用)
B6分组
高温寿命
(不工作)
最后测试
SJ50033/113-—96
续表2
除非另有规定,
Tamb=25℃
入=0.90μmV=10mV
E=5μW/mm2
f=1kHz,Af=1Hz
VR=10mV
5=0.90μm
E.=1mW/mm2
RL=500
表3B组检验
GJB128
T=238~260t,1=5s
极限值
4×10~14
WHz-1/2
抽样数(合格判定数)
或LTPD
除最高温度100℃,循环次数10次外,其余按试验条件A
试验条件H,最大漏率为50mpa.cm/s试验条件C.氟油温度100℃
见本规范表5步骤1和2
Tmb=85℃,V,=8V,t=340h
见本规范表5步骤3和4
目检标准按鉴定时的设计。
试验条件A,最低键合强长20mN,1032
T=100C,t=340h
见本规范表5步骤3和4。
检验和试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击(玻璃应力)
引出端强度
a.细检漏
b.粗检漏
综合温度/湿度周期试验
外观及机械检验
最后测试
C3分组
变频振动
恒定加速度
C4分组
(不要求)
C5分组
低气压
(不要求)
C6分组
稳态工作寿命
最后测试
检验和试验
暗电流
灵敏度
暗电流1)
灵敏度1)
SJ50033/113—96
表 4C组检验
GJB128
见本规范图1
试验条件A
试验条件E
试验条件H,最大漏泄率为50mpa.cm/s试验条件C,氟油温度100℃
省略初始条件,除循环次数6次,辅用循环应在头4次循环中的任意2次循环进行外,其余按规定外观无缺陷,涂层无锈蚀
见本规范表5步骤1和2
不工作,加速度:4900m/s20.5ms,X1、Y1方向各冲击5次
不工作,加速度:196m/sXI、Y1方向各4次,t=32min,f:100~2000Hz
不工作,加速度,98000m/s,Y,方向Tamb=85,Vr=8V,t=1000h
见本规范表5,步骤3和4
B组和C组试验后光电特性测试
E.=0,VR=10mV
入=0.90μm,E.=5uW/mm
Vr=10mV
E,=0,VR=10mV
入=0.90μm,E=5μW/mm2
Vr=10mV
注:1)对本试验超过A组极限值的器件不能向用户提供。极限值
μA/μW
μA/μW
5交货准备
SJ50033/113-96
包装、贮存和运输要求应符合GJB33的规定。6说明事项
6.1预定用途
主要用于光电靶探测系统,也可用于其它光电探测和光电转换系统。6.2订货文件内容
合同或订单中应注明下列内容:a.
本规范名称和编号;
器件型号和等级;
数量:
如果外形尺寸不同于图1,应规定外形尺寸(见3.2条);如果引线长度不同于图1,应规定引线长度(见3.2.4条):如果引线不是镀金,应规定涂层(见3.3条);检验数据(见4.6条);
h.其它。
6.3术语、符号和定义
本规范使用的术语和符合应符合GJB11499、SJ/Z9014.2和本规范的下列规定。6.3.1符号
a.IVD一单个器件的初始值;
b.d。一光敏元直径。
附加说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第四十四研究所负责起草。本规范主要起草人:王雨苏、唐诗才。计划项目代号:B41030
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