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【电子行业标准(SJ)】 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
本网站 发布时间:
1999-01-01 16:00:00
- SJ2658.9-1986
- 现行
标准号:
SJ 2658.9-1986
标准名称:
半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
实施日期:
1986-10-01 出版语种:
简体中文下载格式:
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KB
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标准简介:
SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 SJ2658.9-1986 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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