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QB/T1135-2006 QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

标准编号:QB/T1135-2006 整理时间:2006-08-19 浏览次数:288
资料名称: QB/T1135-2006 QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
标准类别: 轻工行业标准(QB)
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 现行◎
作废日期:
发布日期: 2006-08-19◎
实施日期: 2006-12-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期: 2006-12-01◎
标准编号: QB/T 1135-2006
标准名称: 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
下载文件: .rar .pdf .doc
标准简介: 本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定。 QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法 QB/T1135-2006 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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替代情况: 替代QB/T 1135-1991(参考)
采标情况: 参照ISO 3497-2000(参考)
发布部门: 中华人民共和国国家发展和改革委员会(参考)
提出单位: 中国轻工业联合会(参考)
归口单位: 全国首饰标委会(参考)
主管部门: (参考)
起草单位: 国家首饰质检中心(参考)
起 草 人: 范积芳、李素青、李玉昆、李武军(参考)
出 版 社:

中国轻工业出版社(参考)

页  数: 5页(参考)
书  号: 155019·2887(参考)
计划单号: (参考)
下载次数: 73次
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