【国家标准(GB)】微束分析扫描电子显微术术语

本网站发布时间： 2009-04-01 00:00:00

GB/T23414-2009
现行

基本信息

标准号：
GB/T 23414-2009
标准名称：
微束分析扫描电子显微术术语
标准类别：
国家标准(GB)
标准状态：
现行
发布日期：
2009-04-01
实施日期：
2009-12-01
出版语种：
简体中文
下载格式：
.rar .pdf
下载大小：
KB

标准分类号

标准ICS号：
01.040.37:37.020
中标分类号：
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器

关联标准

采标情况：
IDT ISO 22493:2008

出版信息

出版社：
中国标准出版社
页数：
32页
标准价格：
30.0 元
出版日期：
2009-12-01
计划单号：
20067089-T-469

其他信息

首发日期：
2009-04-01
起草人：
李香庭、曾毅
起草单位：
中国科学院上海硅酸盐研究所
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会
提出单位：
全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：
国家标准化管理委员会
主管部门：
国家标准化管理委员会

标准简介/下载

点击下载

标准简介：

本标准定义了扫描电子显微术（ＳＥＭ）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ＩＳＯ２３８３３中定义的术语。本标准适用于所有有关ＳＥＭ实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）、分析电子显微术（ＡＥＭ）、能谱法（ＥＤＸ）等〕。 GB/T 23414-2009 微束分析扫描电子显微术术语 GB/T23414-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net

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